科研與工業(yè)產(chǎn)品
光通信產(chǎn)品
技術(shù)方案產(chǎn)品
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品牌:Phasics
特點:適用范圍廣:從紫外到遠紅外的任何連續(xù)或脈沖激光
緊湊型測量 對振動不敏感
多達 852 x 720 個采樣點,具有納米靈敏度
適用范圍廣:從紫外到遠紅外的任何連續(xù)或脈沖激光
緊湊型測量 對振動不敏感
多達 852 x 720 個采樣點,具有納米靈敏度
測量激光器波面強度曲線,光束參數(shù)等具體數(shù)據(jù)
測量波前像差
測量波前像差
激光參數(shù)測量
Spectral | Aperture | Spatial | Phase | Phase | Phase | Vaccum | |
SID4 UV | 190-400 nm | 7.8 ×7.8 | 26 um | 300 x 300 | 15 nm RMS | 2 nm RMS | - |
SID4 UV HR | 190-400 nm | 13.3 x13.3 | 26 um | 512 x 512 | 20 nm RMS | 2 nm RMS | - |
SID4 HR V | 400-1100 nm | 9.98 x 8.64 | 24 um | 416 x 360 | 20 nm RMS | 2 nm RMS | 10-6 mbar |
SID4 | 400-1100 nm | 5.02 ×3.75 | 27.6 μm | 182 x 136 | 10 nm RMS | <2 nm RMS | - |
SID4 HR | 400-1100 nm | 9.98 x 8.64 | 24 um | 416 x 360 | 20 nm RMS | <2 nm RMS | - |
SID4 UHR | 400-1100 nm | 15.29 x15.29 | 27.6 μm | 554 x554 | - | 5 nm RMS | - |
SWIR | 0.9-1.7 um | 9.6 x 7.68 | 120 μm | 80 x 64 | 15 nm RMS | <2 nm RMS | - |
SWIR HR | 0.9-1.7 um | 9.6×7.68 | 60 μm | 160 x 128 | 15 nm RMS | <2 nm RMS | - |
eSWIR | 1.2-2.2 um | 9.6 x 7.6 | 120 μm | 80 x 64 | <40 nm RMS* | <6 nm RMS* | - |
eSWIR HR | 1.2-2.2 um | 9.5×7.6 | 120 μm | 159 x 127 | <40 nm RMS* | <6 nm RMS* | - |
DWIR | 3-5 um | 10.08 x 8.16 | 68 μm | 160 x 120 | 75 nm RMS | 25 nm RMS | - |
Phasics 的波陣面?zhèn)鞲衅骰谄鋵S械膶@夹g(shù),可同時提供相位和強度測量,具有無與倫比的高分辨率。 SID4 波陣面?zhèn)鞲衅髋c其光束分析軟件相結(jié)合,可對激光器進行全面診斷:波陣面像差、強度曲線、激光光束質(zhì)量參數(shù)(M2、束腰尺寸和位置......)。Phasics 的波前分析儀可以安裝在光學裝置的任何位置,無論光束是準直的還是發(fā)散的。 Phasics SID4 波陣面?zhèn)鞲衅鬟m用于從紫外到遠紅外的任何連續(xù)或脈沖激光,包括寬帶可調(diào)諧光源、大功率激光鏈等。
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