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厚度測試儀

類別：首頁>中文>產(chǎn)品中心>科研與工業(yè)產(chǎn)品>測量模塊及設(shè)備 >

品牌：Novitec

特點：能夠同時測量厚度和折光率
高速（<250 kHz）和高精度（<10 nm）
能夠測量的基本材料種類多（玻璃、硅片等）

產(chǎn)品詳情

特點

能夠同時測量厚度和折光率
高速（<250 kHz）和高精度（<10 nm）
能夠測量的基本材料種類多（玻璃、硅片等）
可在各種環(huán)境（表面條件、振動等）下進行測量

應(yīng)用

測量涂層或者是鍍層的厚度

參數(shù)

部分參數(shù)如下（T-Nova-850/1550TN）：

工作波長范圍	750 納米 - 950 納米 / 1490 納米 - 1610 納米
厚度測量分辨率	<10 nm，折射率：10^-3
厚度測量范圍（基于普通玻璃）	6 微米 - 1.2 毫米 / 20 微米 - 3 毫米
最大測量速度	250 kHz / 40 kHz
允許的測量角度	<±5o
測量原理	光譜干涉儀
標(biāo)準(zhǔn)	提供 KRISS 標(biāo)準(zhǔn)厚度試樣

案例（ MIKS1_S）

清單

產(chǎn)品	工作波長范圍	厚度測量分辨率	厚度測量范圍	最大測量速度
產(chǎn)品	工作波長范圍	厚度測量分辨率	（基于普通玻璃）	最大測量速度
T-Nova-850/1550TN 系列	750 nm - 950 nm / 1490 nm - 1610 nm	<10 nm，折射率：10^-3	6 um - 1.2 mm / 20 um - 3 mm	250 kHz / 40 kHz
T-Nova-850/1550R	750 nm - 950 nm / 1490 nm - 1610 nm	10 nm（或 0.1 nm）	400 nm - 1.2 mm / 2 um - 3 mm	250 kHz / 40 kHz

原廠介紹

Novitec在2012年成立于韓國，致力于視覺傳感領(lǐng)域的研究。Novitec的厚度測量儀采用透射法進行厚度檢測，能夠?qū)崿F(xiàn)同時測量厚度和折光率，可以高速（<250 kHz）和高精度（<10 nm）得測量多種材料（玻璃、硅片等）的基板

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